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| 真空系統如何進(jìn)行氣體分析 |
| 發(fā)布時(shí)間：2015-01-20 瀏覽：5256 次 |
目前，真空獲得技術(shù)已由超高真空發(fā)展到10^-10Pa—l0^-11Pa的極高真空階段。在超高真空和極高真空下，容器內部的氣體組分和容器內部的表面狀態(tài)關(guān)系十分密切。 在研究這種條件下的真空物理和真空化學(xué)過(guò)程時(shí)，除了需要了解容器內部的表面狀態(tài)外，還必須知道容器內的氣體組分和相應的分壓力。 超高真空系統的全壓力測量除了最早采用的B-A型超高真空規外，又發(fā)展了許多極高真空規，如冷陰極磁控規、抑制規和彎注規等。但對許多研究工作來(lái)說(shuō)，僅靠全壓力數據是不夠的。 例如真空系統中的吸附、凝結、脫附過(guò)程等，它涉及到容器表面和系統內部物質(zhì)和殘余氣體分子的相互作用。這時(shí)獲得系統內氣體組分和分壓力的數據比全壓力數據更能說(shuō)明問(wèn)題。 真空條件下的氣體分析和分壓力測量通常是由動(dòng)態(tài)質(zhì)譜計完成的。 第一個(gè)動(dòng)態(tài)質(zhì)譜計——射頻速度過(guò)濾器是于1926年提出的。其它的動(dòng)態(tài)質(zhì)譜計如射頻質(zhì)譜計、回旋質(zhì)譜計、飛行時(shí)間質(zhì)譜計和四極質(zhì)譜計都是于20世紀40年代末到50年代初提出的。 早期的儀器主要用于同位素測量、帶電粒子的質(zhì)荷比測量。但當耐正值真空技術(shù)處于向超高真空發(fā)展的重要階段，因此這些質(zhì)譜計出現不久就被作為專(zhuān)用的真空質(zhì)譜計了。 真空分析質(zhì)譜計按其能否進(jìn)行定量分析，可分為殘氣分析器和分壓力計。所謂分壓力計是指能滿(mǎn)足一定的定量分析精度要求的真空分析器。
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